И.Н. Еремина, А.Г. Саноян | Физико-технические основы устройств микроэлектроники (2008) [PDF]

Учебная литература различной тематики (без категории)
Торрент Сидеров Личеров Размер
torrent_804902.torrent
0 0 4.32 МБ
Аватара пользователя
Nik
Сообщения: 25933
Зарегистрирован: 05 ноя 2011, 22:02

И.Н. Еремина, А.Г. Саноян | Физико-технические основы устройств микроэлектроники (2008) [PDF]

Сообщение Nik » 20 сен 2016, 23:17

И.Н. Еремина, А.Г. Саноян | Физико-технические основы устройств микроэлектроники (2008) [PDF]

Автор: И.Н. Еремина, А.Г. Саноян
Издательство: Изд-во Самарского гос. аэрокосм. ун-та
ISBN: 978-5-7883-0662-9
Жанр: Электроника
Формат: PDF
Качество: Хороший скан
Иллюстрации: Цветные и черно-белые
Количество страниц: 84

Описание:
В пособии изложены теоретические положения и физико-технические методы анализа параметров физических сред и элементов конструкций, используемых в конструкторско-технологической практике создания микроэлектронных устройств. Приведен большой круг задач и упражнений по рассматриваемой тематике. Форма представления учебного материала ориентирована на значительный объем самостоятельной работы студентов.
Рекомендуется для студентов, обучающихся по специальности 200800 заочной формы обучения. Разработано на кафедре «Наноинженерия».
Скриншоты:
Список основных условных обозначений
Введение
Методы статистической физики, используемые в конструкторско-технологической практике создания устройств микроэлектроники
Физическая сущность статистического метода анализа макроскопических систем
Активационная модель протекания элементарных физикохимических процессов
Определение концентрации активных, с энергетической точки зрения, частиц
Динамическое равновесие элементарных процессов в макроскопических системах
Определение срока службы изделий на основе статистических методов физической надежности
Специфика протекания термоактивационных процессов в условиях внешних силовых воздействий. Кинетическая теория прочности материалов
Задачи и упражнения к разделу
Определение концентрации активных частиц, ответственных за протекание элементарных физико-химических процессов
Статистический анализ физико-химических процессов, используемых в технологической практике создания элементов электронных устройств
Оценка срока службы технических устройств с позиций активационной модели расходования ресурса
Контактные и поверхностные явления в твердотельных структурах
Физические основы выпрямляющего эффекта электроннодырочного перехода в полупроводниковых структурах
Контактная разность потенциалов и толщина слоя объемного заряда
Вольт-амперная характеристика контактной системы «металл -полупроводник»
Задачи и упражнения к разделу
Общие рекомендации по решению задач и упражнений
Контактные явления в системах "Металл №1 - Металл №2
Контактные явления в системах «Металл - Полупроводник»
Энтропийные методы и показатели качества микро- и нанотехнологий
Цели и задачи энтропийного подхода
Формальное представление технических объектов и технологии их создания
Показатели качества технологий на микроскопическом уровне рассмотрения
Показатели качества технологий на макроскопическом уровне рассмотрения
Показатели качества реальных технологий
Информационный потенциал и дефицит технологии создания изделий
Информационный запас качества и срок службы изделий
Процесс создания микроструктур в рамках представлений теории кодирования дискретной информации
Алгоритмическая энтропия и самоорганизация сложных атомных структур
Общие принципы пространственно-временной организации и эволюции микроэлектронных устройств
Задачи и упражнения к разделу
Заключение
Список рекомендуемой литературы
Приложение Справочные данные общего характера
Время раздачи: Пн-Пт с 18:00 до 7:00 Мск, Сб-Вс 24/2
У вас нет необходимых прав для просмотра вложений в этом сообщении.

TOPIC_VIEWER - Лучшая благодарность поделиться ссылкой с друзьями в соц. сетях